SOLID STATE ELECTRONICS
Generation-recombination noise modelling in semiconductor devices through population or approximate equivalent current density fluctuations / Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 43:(1999), pp. 285-295. [10.1016/S0038-1101(98)00253-6]
Generation-recombination noise modelling in semiconductor devices through population or approximate equivalent current density fluctuations
BONANI, Fabrizio;GHIONE, GIOVANNI
1999
Abstract
SOLID STATE ELECTRONICSFile in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1397423
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo