SOLID STATE ELECTRONICS

Generation-recombination noise modelling in semiconductor devices through population or approximate equivalent current density fluctuations / Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 43:(1999), pp. 285-295. [10.1016/S0038-1101(98)00253-6]

Generation-recombination noise modelling in semiconductor devices through population or approximate equivalent current density fluctuations

BONANI, Fabrizio;GHIONE, GIOVANNI
1999

Abstract

SOLID STATE ELECTRONICS
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