Parametric Macromodels of Digital I/O Ports

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Parametric Macromodels of Digital I/O Ports
Autori: Stievano I.S, Maio I.A, Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON ADVANCED PACKAGING
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
Volume: 25
Numero: 2
Intervallo pagine: pp. 255-264
Numero di pagine: 10
ISSN: 1521-3323
Abstract: This paper addresses the development of macromodels for input and output ports of a digital device. The proposed macromodels consist of parametric representations that can be obtained from port transient waveforms at the device ports via a well established procedure. The models are implementable as SPICE subcircuits and their accuracy and efficiency are verified by applying the approach to the characterization of transistor-level models of commercial devices
Data: 2002
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: circuit modeling, signal integrity (si), digital integrated circuits (ics), input-output (i/o) ports, electromagnetic compatibility (emc), macromodeling, radial basis function (rbf) models, system identification
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 26 Giu 2008 16:14
Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 11:52:09
Data inserimento (PORTO): 15 Gen 2015 03:16
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TADVP.2002.803260
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1398460
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img]
Preview
PDF (jnl_2002_tadvp_RBF_IEEE) - Postprint
Accesso al documento: Visibile (Ad accesso aperto)
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati.

Download (509Kb (521724 bytes)) | Preview

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)

Statistiche sul Download degli allegati

Altre statistiche su questa pubblicazione...