Archivio Istituzionale della RicercaJETTA: THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING: THEORY AND APPLICATIONS
Exploiting Behavioral Information in Gate-Level ATPG / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 14(1-2):(1999), pp. 141-148. [10.1023/A:1008322011010]
Exploiting Behavioral Information in Gate-Level ATPG
CHIUSANO, SILVIA ANNA;CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto
1999
Abstract
JETTA: THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING: THEORY AND APPLICATIONS
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https://hdl.handle.net/11583/1398714
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