Behavioral Models of I/O Ports from Measured Transient Waveforms

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Behavioral Models of I/O Ports from Measured Transient Waveforms
Autori: Stievano I.S., Maio I.A., Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
Volume: 51
Numero: 6
Intervallo pagine: pp. 1266-1270
Numero di pagine: 5
ISSN: 0018-9456
Abstract: This paper addresses the development of accurate and efficient behavioral models of digital integrated circuit ports from measured transient responses. The proposed approach is based on the estimation of parametric models from port voltage and current waveforms. The modeling process is described and applied to the modeling of output ports. Its feasibility is demonstrated by the identification of a real device from actual measurements, and by the comparison of the predicted device response with the measured one
Data: 2002
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: macromodeling, digital integrated circuits (ics), signal integrity (si), electromagnetic compatibility (emc), radial basis function (rbf) models, input-output (i/o) ports, circuit modeling, system identification
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 14 Apr 2009 16:08
Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 11:52:35
Data inserimento (PORTO): 14 Gen 2015 03:32
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TIM.2002.808019
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1402000
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

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