Accurate Analysis of Single Event Upsets in a Pipelined Microprocessor / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 19, numero 5:(2003), pp. 577-584. [10.1023/A:1025130131636]

Accurate Analysis of Single Event Upsets in a Pipelined Microprocessor

REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2003

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1406952
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