Archivio Istituzionale della RicercaHEMT short-gate noise modelling and parametric analysis of NF performance limits / Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Naldi, C. U.; Schnell, R. D.; Siweris, H. J.. - (1992), pp. 581-584. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting tenutosi a San Francisco, USA nel 13-16 December) [10.1109/IEDM.1992.307429].
HEMT short-gate noise modelling and parametric analysis of NF performance limits
BONANI, Fabrizio;GHIONE, GIOVANNI;
1992
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https://hdl.handle.net/11583/1407925
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