A System for Evaluating On-Line Testability at the RT-level / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Vietti, R.. - (1998), pp. 284-291. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems nel 2-4 November 1998).

A System for Evaluating On-Line Testability at the RT-level

CHIUSANO, SILVIA ANNA;CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;
1998

1998
9780818688324
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