Radiated Immunity Testing of a Device with an External Wire: Repeatibility of Reverberation Chamber Results and Correlation with Anechoic Chamber Results

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Radiated Immunity Testing of a Device with an External Wire: Repeatibility of Reverberation Chamber Results and Correlation with Anechoic Chamber Results
Autori: Musso L., Canavero F.G., Demoulin B., Berat V.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 828-833
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 0780378350
Volume: 2
Titolo del convegno: 2003 IEEE International Symposium on EMC
Luogo dell'evento: Boston (MA)
Data dell'evento: August 18-22
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: We present the experimental radiated immunity results of an electronic device with an external wire obtained in reverberation and anechoic chambers. Repeatability and reproducibility of reverberation chamber measurements are investigated by repeating the test in three reverberation chambers with different characteristics. We show how the current state of the art allows a statistical control of RC measurement repeatability within an industrial installation, and that a statistical correlation with AC results frequency by frequency is possible in particular cases relevant to automotive applications
Data: 2003
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Ott 2006 14:30
Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 11:53:44
Data inserimento (PORTO): 19 Gen 2015 05:32
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ISEMC.2003.1236715
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1409395
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