Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions / Corno, Fulvio; G., Cumani; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2002). (Intervento presentato al convegno ISQED2002: 3rd International Symposium on Quality Electronic Design).

Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions

CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1409822
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