Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions / Corno, Fulvio; G., Cumani; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2002). (Intervento presentato al convegno ISQED2002: 3rd International Symposium on Quality Electronic Design).
Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1409822
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