Behavioral models of digital IC ports from measured transient waveforms

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Behavioral models of digital IC ports from measured transient waveforms
Autori: Stievano I.S.; Maio I.A.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 211-214
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 0780364503
Titolo del convegno: Electrical Performance of Electronic Packaging, EPEP
Luogo dell'evento: Scottsdale, AZ (USA)
Data dell'evento: Oct. 23-25, 2000
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper addresses the behavioral modeling of output ports of digital integrated circuits via the identification of nonlinear parametric models. The aim of the approach is to produce models for signal integrity (SI) simulation directly from the measured transient responses of the devices. The modeling process is thoroughly described and an experimental demonstration of its feasibility is given
Data: 2000
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Ott 2006 14:34
Data ultima modifica (IRIS): 19 Mag 2017 15:18:41
Data inserimento (PORTO): 28 Mag 2017 19:24
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EPEP.2000.895530
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1413673
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img]
Preview
PDF (cnf_2000_epep_rbf_meas_IEEE.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Visibile (Ad accesso aperto)
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati.

Download (356Kb (364953 bytes)) | Preview

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)

Statistiche sul Download degli allegati

Altre statistiche su questa pubblicazione...