Identification of models for digital integrated circuit ports from measured transient waveforms

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Identification of models for digital integrated circuit ports from measured transient waveforms
Autori: Canavero F.G., Maio I.A., Stievano I.S.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 790-793
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 0780366468
Volume: 2
Titolo del convegno: 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
Luogo dell'evento: Budapest (Hungary)
Data dell'evento: May 21-23
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper addresses the development of accurate and efficient behavioral models of digital IC ports from measured transient responses. The proposed approach is based on the estimation of parametric models from port voltage and current waveforms. The modeling process is described and applied to the modeling of both input and output ports. Its feasibility is demonstrated on a real device from, actual measurements
Data: 2001
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Ott 2006 14:34
Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 11:54:27
Data inserimento (PORTO): 24 Ott 2014 07:23
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/IMTC.2001.928186
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1413682
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Citazioni:

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