MM-wave on-wafer characterization of electro-optic devices: a new, simple approach / Ferrero, A; Nespola, A; Ghione, Giovanni; Mantione, S; Pensa, ; Pirola, Marco. - (2000). (Intervento presentato al convegno GAAS 2000 tenutosi a Paris, France nel 2-6 October).

MM-wave on-wafer characterization of electro-optic devices: a new, simple approach

GHIONE, GIOVANNI;PIROLA, Marco
2000

2000
9780862132224
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