Testability analysis and ATPG on behavioral RT-level VHDL / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1997), pp. 753-759. (Intervento presentato al convegno ITC 1997: IEEE International Test Conference tenutosi a Washington DC (USA) nel Nov 1-6, 1997) [10.1109/TEST.1997.639688].

Testability analysis and ATPG on behavioral RT-level VHDL

CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1997

1997
0780342097
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