Coupling different methodologies to validate obsolete microprocessors / L., Anghel; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni; R., Velazco. - (2004), pp. 250-255. (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems) [10.1109/DFTVS.2004.1347846].

Coupling different methodologies to validate obsolete microprocessors

SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni;
2004

2004
9780769522418
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