Exploiting Auto-Adaptive microGP for Highly Effective Test Programs Generation

Il contenuto (Full text) non è disponibile all'interno di questo archivio. Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento
Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Exploiting Auto-Adaptive microGP for Highly Effective Test Programs Generation
Autori: F. Corno; Squillero G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Tipo non specificato
Volume: 2606
Intervallo pagine: pp. 262-273
Numero di pagine: 12
ISSN: 0302-9743
Data: 2003
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione:
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 27 Giu 2007 07:26
    Data ultima modifica (IRIS): 06 Lug 2012 21:34:33
    Data inserimento (PORTO): 24 Ott 2014 09:19
    Numero Identificativo (DOI): 10.1007/3-540-36553-2_24
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1417974
    Link resolver URL: Link resolver link

    Azioni (richiesto il login)

    Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)