Temperature-Dependent Macromodels of Digital Device

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Temperature-Dependent Macromodels of Digital Device
Autori: Stievano I.S., Maio I.A., Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 321-326
Editore: Communication Technology Laboratory and Laboratory for Electromagnetic Fields and Microwave Electronics of the Swiss Federal Institute of Technology
ISBN: 3952119970
Titolo del convegno: 15th IEEE International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility
Luogo dell'evento: Zurich (Switzerland)
Data dell'evento: Feb. 18-20, 2003
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Luogo di pubblicazione: Zurich
Abstract: This paper addresses the development of a temperature-dependent parametric macromodel for the output ports of a digital IC. The model parameters are estimated from port transient voltage and current waveforms by means of a simple and efficient procedure. The obtained models are implemented as SPICE subcircuits. They perform at an accuracy and efficiency level suitable for system-level SI and EMC simulations
Data: 2003
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
    Data di deposito: 15 Feb 2008 15:49
    Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 11:54:55
    Data inserimento (PORTO): 12 Gen 2015 19:14
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1418285
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