Detailed comparison of dependability analyses performed at RT and gate levels / A., Ammari; R., Leveugle; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2003), pp. 336-343. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems).

Detailed comparison of dependability analyses performed at RT and gate levels

SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2003

2003
0769520421
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