High-speed Driven Technological Improvements Impact on InterconnectThermal Reliability in VLSI Circuits / Casu, MARIO ROBERTO; Graziano, Mariagrazia; Masera, Guido; Piccinini, Gianluca; Zamboni, Maurizio. - (2001). (Intervento presentato al convegno VLSI-SOC 2001).

High-speed Driven Technological Improvements Impact on InterconnectThermal Reliability in VLSI Circuits

CASU, MARIO ROBERTO;GRAZIANO, MARIAGRAZIA;MASERA, Guido;PICCININI, GIANLUCA;ZAMBONI, Maurizio
2001

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1419302
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