Approaching production diagnostic for BIST-based testing / D., Appello; Bernardi, Paolo; D., Chindamo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre. - (2004). (Intervento presentato al convegno SDD'04: 1st IEEE International Workshop on Silicon Debug and Diagnosis tenutosi a Ajaccio, Francia nel 26-27 maggio 2004).

Approaching production diagnostic for BIST-based testing

BERNARDI, PAOLO;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;
2004

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1498890
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