Exploiting programmable BIST for the diagnosis of embedded memory cores / D., Appello; Bernardi, Paolo; A., Fudoli; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre; Violante, Massimo. - 1:(2003), pp. 379-385. (Intervento presentato al convegno ITC2003: IEEE International Test Conference tenutosi a Charlotte, NC, USA nel 30 settembre - 2 ottobre 2003) [10.1109/TEST.2003.1270861].

Exploiting programmable BIST for the diagnosis of embedded memory cores

BERNARDI, PAOLO;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2003

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