A new functional fault model for FPGA Application-Oriented testing / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2002), pp. 372-380. (Intervento presentato al convegno DFT2002: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems tenutosi a Vancouver, Canada nel 6-8 novembre 2002).

A new functional fault model for FPGA Application-Oriented testing

REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2002

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1498957
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