Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo. - (2006), pp. 230-231. (Intervento presentato al convegno IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS tenutosi a Prague, Czech Republic nel 18-21 Aprile 2006).

Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm

BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO
2006

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1499492
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