Evolutionary Techniques for Minimizing Test Signals Application Time

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Evolutionary Techniques for Minimizing Test Signals Application Time
Autori: Corno F; Sonza Reorda M; Squillero G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 183-189
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Springer
ISBN: 9783540434320
ISSN: 0302-9743
Volume: 2279
Titolo del convegno: EvoWorkshops 2002: EvoCOP, EvoIASP, EvoSTIM/EvoPLAN
Luogo dell'evento: Kinsale (IRL)
Data dell'evento: April 3–4, 2002
Abstract: Reducing production-test application time is a key problem for modern industries. Several different hardware solutions have been proposed in the literature to ease such process. However, each hardware architecture must be coupled with an effective test signals generation algorithm. This paper propose an evolutionary approach for minimizing the application time of a test set by opportunely extending it and exploiting a new hardware architecture, named interleaved scan. The peculiarities of the problem suggest the use of a slightly modified genetic algorithm with concurrent populations. Experimental results show the effectiveness of the approach against the traditional ones
Data: 2002
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione:
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 27 Mar 2007 13:58
    Data ultima modifica (IRIS): 14 Set 2015 11:34:41
    Data inserimento (PORTO): 09 Ott 2015 10:06
    Numero Identificativo (DOI): 10.1007/3-540-46004-7_19
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1501667
    Link resolver URL: Link resolver link
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