Reducing Test Application Time through Interleaved Scan / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2002), pp. 89-94. (Intervento presentato al convegno SBCCI2002: 15th IEEE Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, Porto Alegre (Brasil)).

Reducing Test Application Time through Interleaved Scan

CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002

2002
9780769518077
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