A new technique for the measurements of IC susceptibility to electrical fast transient / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - (2004), pp. 147-150. (Intervento presentato al convegno EMC Europe 2004 - International symposium on electromagnetic compatibility tenutosi a Eindhoven - Olanda nel September 6 -10, 2004).

A new technique for the measurements of IC susceptibility to electrical fast transient

FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO
2004

2004
9789061449904
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