High Quality Test Pattern Generation for RT-level VHDL Descriptions / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (1999).

High Quality Test Pattern Generation for RT-level VHDL Descriptions

CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
1999

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1545127
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