RF Immunity of Digital Integrated Circuits: Measurements, Modeling and Validation

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: RF Immunity of Digital Integrated Circuits: Measurements, Modeling and Validation
Autori: Stievano I.S., Vialardi E., Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1-4
Titolo del convegno: EMC Europe Workshop 2007
Luogo dell'evento: Paris (F)
Data dell'evento: Jun. 14-15, 2007
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2007
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
    Data di deposito: 25 Giu 2007 09:13
    Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 10:55:15
    Data inserimento (PORTO): 31 Ago 2017 02:55
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1635905
    Link resolver URL: Link resolver link

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