Archivio Istituzionale della RicercaX-ray micro tomography characterization of strain localization upon deviatoric loading of saturated fine-grained stiff soils / Lenoir, N.; Marello, Stefania; Viggiani, G.; Besuelle, P.; Desrues, J.; DI MICHIEL, M.. - (2004), pp. 147-154. (Intervento presentato al convegno International Workshop on X-Ray CT Scanners for Geomaterials - GEOX 2003 tenutosi a Kumamtoto, Japan nel November 6-7, 2003).
X-ray micro tomography characterization of strain localization upon deviatoric loading of saturated fine-grained stiff soils
MARELLO, STEFANIA;
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1649133
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