Caratteristiche semiconduttrici di strati passivanti formati su leghe Fe-Cr e sull'acciaio AISI 304

Il contenuto (Full text) non è disponibile all'interno di questo archivio. Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento
Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Caratteristiche semiconduttrici di strati passivanti formati su leghe Fe-Cr e sull'acciaio AISI 304
Autori: Angelini E.; M. Maja
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: LA METALLURGIA ITALIANA
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: -Milano: Associazione Italiana di Metallurgia. -Edimet:Via Corfu 102, I 25124 Brescia Italy:011 39 030 2421043, EMAIL: info@edimet.com, INTERNET: http://www.edimet.com, Fax: 011 39 030 223802
Volume: 69
Numero: 10
Intervallo pagine: pp. 397-402
Numero di pagine: 6
ISSN: 0026-0843
Abstract: Photopotential measurements were used to determine the semiconducting properties of the oxide layers formed on Fe-Cr alloys and AISI 304 stainless steel. The oxide films were obtained by two different procedures: thermal oxidation in air, and anodic oxidation. On the basis of the results obtained, it is concluded that the photoeffects are due to two independent processes: (1) the photovoltaic one, which occurs within the surface oxide film, and (2) the photogalvanic, which is produced by the photodecomposition of the oxide itself
Data: 1977
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Italiano
Parole chiave: semiconductor materials, iron chromium alloys, stainless steel
Dipartimenti (originale): NON SPECIFICATO
Dipartimenti: DISAT - Dipartimento Scienza Applicata e Tecnologia
URL correlate:
    Area disciplinare:
    Data di deposito: 20 Nov 2007 10:07
    Data ultima modifica (IRIS): 02 Feb 2016 16:29:48
    Data inserimento (PORTO): 05 Feb 2016 03:41
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1653886
    Link resolver URL: Link resolver link
    Citazioni:

    Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

    Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

    • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
    • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
    • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

    Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

    +
    -

    Azioni (richiesto il login)

    Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)