The impact ionization phenomena in GaAs MESFETs: experimental results and simulations / Neviani, A; Naldi, C; Pirola, Marco; Tedesco, C; Zanoni, E.. - (1991). (Intervento presentato al convegno 18 International Symposium on Gallium Arsenide and Related Compounds tenutosi a Seattle, USA nel 9-12 September).

The impact ionization phenomena in GaAs MESFETs: experimental results and simulations

PIROLA, Marco;
1991

1991
9780854984107
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