Partial scan delay fault testing of asynchronous circuits / M., Kishinevsky; A., Kondratyev; Lavagno, Luciano; A., Saldanha; A., Taubin. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. - ISSN 0278-0070. - 17(11):(1998).

Partial scan delay fault testing of asynchronous circuits.

LAVAGNO, Luciano;
1998

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1667500
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