Effectiveness of TMR-based techniques to mitigate alpha-induced SEU accumulation in commercial SRAM-based FPGAs

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Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Effectiveness of TMR-based techniques to mitigate alpha-induced SEU accumulation in commercial SRAM-based FPGAs
Autori: A. Manuzzato; S. Gerardin; A. Paccagnella; Sterpone L.; M. Violante
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
Volume: 55
Intervallo pagine: pp. 1968-1973
ISSN: 0018-9499
Data: 2008
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 14 Gen 2009 17:34
    Data ultima modifica (IRIS): 15 Set 2016 15:29:50
    Data inserimento (PORTO): 17 Set 2016 04:57
    Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TNS.2008.2000850
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1741141
    Link resolver URL: Link resolver link
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