Behavioral Models of IC Output Buffers from on-the-fly measurements

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Behavioral Models of IC Output Buffers from on-the-fly measurements
Autori: Stievano I.S.; Maio I.A.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: IEEE
Volume: 57
Numero: 4
Intervallo pagine: pp. 850-855
Numero di pagine: 6
ISSN: 0018-9456
Data: 2008
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: circuit modeling, digital integrated circuits (ics), electromagnetic compatibility, input-output (i/o) ports, macromodeling, signal integrity, system identification
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 15 Dic 2008 16:02
Data ultima modifica (IRIS): 12 Set 2016 10:21:41
Data inserimento (PORTO): 15 Set 2016 13:06
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TIM.2007.913599
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1802192
Link resolver URL: Link resolver link
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