Behavioral Macromodels of Digital Integrated Circuits for RF Immunity Prediction

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Behavioral Macromodels of Digital Integrated Circuits for RF Immunity Prediction
Autori: Stievano I.S.; Vialardi E.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 5-9
Editore: IEEE
ISBN: 9783952328606
Titolo del convegno: 18th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Zurich 2007)
Luogo dell'evento: Munich (Germany)
Data dell'evento: Feb. 18-20, 2007
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2007
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 12 Giu 2008 15:36
Data ultima modifica (IRIS): 12 Set 2016 10:19:46
Data inserimento (PORTO): 14 Set 2016 17:21
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EMCZUR.2007.4388182
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1822649
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

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