An Innovative and Low-Cost Industrial Flow for Reliability Characterization of SoCs

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: An Innovative and Low-Cost Industrial Flow for Reliability Characterization of SoCs
Autori: Appello D; Bernardi P; Cagliesi R; Giancarlini M; Grosso M.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 140-145
Editore: IEEE
ISBN: 9780769531502
Titolo del convegno: 13th IEEE European Test Symposium, 2008
Luogo dell'evento: Verbania, Italia
Data dell'evento: may 25 - 29, 2008
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2008
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 30 Ott 2008 11:00
    Data ultima modifica (IRIS): 02 Feb 2016 15:34:05
    Data inserimento (PORTO): 05 Feb 2016 03:42
    Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ETS.2008.27
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1851507
    Link resolver URL: Link resolver link
    Citazioni:

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