An Algebraic Approach to Test Generation for Sequential Circuits / Lioy, Antonio; Macii, Enrico; Meo, A. R.; SONZA REORDA, Matteo. - (1991), pp. 115-120. (Intervento presentato al convegno GLS-VLSI-91: IEEE/ACM 1st Great Lakes Symposium on VLSI tenutosi a Kalamazoo, MI) [10.1109/GLSV.1991.143952].

An Algebraic Approach to Test Generation for Sequential Circuits

LIOY, ANTONIO;MACII, Enrico;SONZA REORDA, Matteo
1991

1991
0818621702
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