Test Generation for Gate Level Sequential Machines: Algorithms and Implementation Issues

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Test Generation for Gate Level Sequential Machines: Algorithms and Implementation Issues
Autori: Lioy A; Macii E.; Meo A. R
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 262-267
ISBN: 0818627603
Titolo del convegno: CompEuro'92: IEEE 1992 International Conference on Software Engineering
Luogo dell'evento: Den Haag, The Netherlands
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 1992
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): NON SPECIFICATO
Dipartimenti: DIST - Dipartimento Interateneo di Scienze, Progetto e Politiche del Territorio
DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare:
    Data di deposito: 30 Dic 2008 11:31
    Data ultima modifica (IRIS): 02 Nov 2015 22:38:31
    Data inserimento (PORTO): 05 Nov 2015 21:58
    Numero Identificativo (DOI): 10.1109/CMPEUR.1992.218499
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1870389
    Link resolver URL: Link resolver link
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