Test Generation for Sequential Networks Affected by Reconvergent Fanout: a Solution based on a 9-Valued Algebraic Circuit Model / Macii, Enrico; Meo, A. R.. - (1992), pp. 980-984. (Intervento presentato al convegno IEEE 26th Asilomar Conference on Signals, Systems and Computers tenutosi a Pacific Grove, CA) [10.1109/ACSSC.1992.269074].
Test Generation for Sequential Networks Affected by Reconvergent Fanout: a Solution based on a 9-Valued Algebraic Circuit Model
MACII, Enrico;
1992
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https://hdl.handle.net/11583/1870410
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