Archivio Istituzionale della RicercaThickness dependence of surface plasmon polariton dispersion in transparent conducting oxide films at 1.55 mu m / Michelotti, F.; Dominici, L.; Descrovi, Emiliano; Danz, N.; Menchini, F.. - In: OPTICS LETTERS. - ISSN 0146-9592. - 34:6(2009), pp. 839-841.
Thickness dependence of surface plasmon polariton dispersion in transparent conducting oxide films at 1.55 mu m
DESCROVI, EMILIANO;
2009
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https://hdl.handle.net/11583/1906855
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