IC Models Accounting for Effects of EM Noise

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: IC Models Accounting for Effects of EM Noise
Autori: Stievano I.S.; Canavero F.G.; Vialardi E.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1-5
Editore: IEEE
ISBN: 9781424427376
Titolo del convegno: International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2008)
Luogo dell'evento: Hamburg (GE)
Data dell'evento: Sep. 8-12, 2008
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2008
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 27 Apr 2009 16:39
Data ultima modifica (IRIS): 05 Feb 2016 09:01:59
Data inserimento (PORTO): 10 Feb 2016 15:55
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EMCEUROPE.2008.4786848
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1957669
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

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