Application-oriented SEU sensitiveness analysis of Atmel rad-hard FPGAs / Battezzati, Niccolo'; Decuzzi, F; Violante, Massimo; Briet, M.. - (2009), pp. 89-94. (Intervento presentato al convegno 15th IEEE International On-Line Testing Symposium tenutosi a Sesimbra-Lisbon, Portugal nel 24-26 June 2009).

Application-oriented SEU sensitiveness analysis of Atmel rad-hard FPGAs

BATTEZZATI, NICCOLO';VIOLANTE, MASSIMO;
2009

2009
9781424445967
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2279752
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo