DfT Reuse for Low-Cost Radiation Testing of SoCs: A Case Study / Appello, D.; Bernardi, Paolo; Gerardin, S.; Grosso, Michelangelo; Paccagnella, A.; Rech, P.; SONZA REORDA, Matteo. - (2009), pp. 276-281. (Intervento presentato al convegno 27th IEEE VLSI Test Symposium (VTS '09) tenutosi a Santa Cruz, USA nel May 2009) [10.1109/VTS.2009.26].

DfT Reuse for Low-Cost Radiation Testing of SoCs: A Case Study

BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;P. RECH;SONZA REORDA, Matteo
2009

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2285646
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