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Testing Strategy and Technique for Macro-Based Circuits

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Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Testing Strategy and Technique for Macro-Based Circuits
Autori: Somenzi F; Gai S; Mezzalama M; Prinetto P.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS
Tipo di referee: Tipo non specificato
Volume: C-34, Issue 1, Jan. 1985
Intervallo pagine: pp. 85-90
ISSN: 0018-9340
Data: 1985
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): NON SPECIFICATO
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 07 Nov 2009 22:55
    Data ultima modifica (IRIS): 16 Gen 2018 02:38:12
    Data inserimento (PORTO): 18 Gen 2018 03:25
    Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TC.1985.1676519
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2286555
    Link resolver URL: Link resolver link
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