Sequential circuit diagnosis based on formal verification techniques

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Sequential circuit diagnosis based on formal verification techniques
Autori: Cabodi G; Camurati P; Corno F; Prinetto P.; Sonza Reorda M
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 187-196
Editore: IEEE Computer Society
Titolo del convegno: ITC 1992: IEEE International Test Conference 1992
Luogo dell'evento: Baltimore MD (USA)
Data dell'evento: Sept. 20-24 1992
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 1992
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): NON SPECIFICATO
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare:
    Data di deposito: 29 Dic 2009 22:36
    Data ultima modifica (IRIS): 28 Apr 2016 10:22:56
    Data inserimento (PORTO): 30 Apr 2016 03:31
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2297068
    Link resolver URL: Link resolver link
    Citazioni:

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