Accurate Extraction of Noise Source Impedance of an SMPS Under Operating Conditions

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Accurate Extraction of Noise Source Impedance of an SMPS Under Operating Conditions
Autori: Tarateeraseth V.; Bo Hu; Kye Yak See; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: IEEE
Volume: Vol. 25
Numero: 1
Intervallo pagine: pp. 111-117
Numero di pagine: 7
ISSN: 0885-8993
Abstract: An accurate measurement method to extract the common mode (CM) and the differential mode (DM) noise source impedances of a switched mode power supply (SMPS) under its operating condition is developed and validated. With a proper pre-measurement calibration process, the proposed method allows extraction of both the CM and the DM noise source impedances with very good accuracy. These noise source impedances come in handy to design an electromagnetic interference (EMI) filter for a SMPS systematically with minimum hassle
Data: 2010
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: calibration, electromagnetic interference, switched mode power supplies
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 08 Giu 2010 15:29
Data ultima modifica (IRIS): 09 Set 2016 11:08:22
Data inserimento (PORTO): 04 Ott 2016 13:51
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TPEL.2009.2024675
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2362053
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Citazioni:

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