FEM-based reduced-order model for steady-state skin-effect analysis in lossy lines / Bertazzi, Francesco; Francesco, Carbonera; Goano, Michele; Ghione, Giovanni. - (2002), pp. 2025-2028. (Intervento presentato al convegno IEEE MTT-S International Microwave Symposium) [10.1109/MWSYM.2002.1012265].
FEM-based reduced-order model for steady-state skin-effect analysis in lossy lines
BERTAZZI, FRANCESCO;GOANO, MICHELE;GHIONE, GIOVANNI
2002
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2363624
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo