Archivio Istituzionale della RicercaBehavioral modeling of IC memories from measured data / Stievano, IGOR SIMONE; Rigazio, Luca; Canavero, Flavio; Cunha, T. R.; Pedro, J. C.; Teixeira, H. M.; Girardi, A.; Izzi, R.; Vitale, F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - STAMPA. - 60:1(2011), pp. 3471-3479. [10.1109/TIM.2011.2128570]
Behavioral modeling of IC memories from measured data
STIEVANO, IGOR SIMONE;RIGAZIO, LUCA;CANAVERO, Flavio;
2011
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
jnl-2011-TIM-MOCHA-IO-and-PSP.pdf
accesso aperto
Tipologia:
2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza:
PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione
799.68 kB
Formato
Adobe PDF
|
799.68 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2373678
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo