Evolving Cellular Automata for Self-Testing Hardware

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Evolving Cellular Automata for Self-Testing Hardware
Autori: Fulvio Corno, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 31-40
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Springer
ISBN: 3540673385
ISSN: 0302-9743
Volume: 1801
Titolo del convegno: Third International Conference, ICES 2000
Luogo dell'evento: Edinburgh (GBR)
Data dell'evento: April 17–19, 2000
Abstract: Testing is a key issue in the design and production of digital circuits: the adoption of BIST (Built-In Self-Test) techniques is increasingly popular, but requires efficient algorithms for the generation of the logic which generates the test vectors applied to the Unit Under Test. This paper addresses the issue of identifying a Cellular Automaton able to generate input patterns to detect stuckat faults inside a Finite State Machine (FSM) circuit. Previous results already proposed a solution based on a Genetic Algorithm which directly identifies a Cellular Automaton able to reach good Fault Coverage of the stuck-at faults. However, such method requires 2-bit cells in the Cellular Automaton, thus resulting in a high area overhead. This paper presents a new solution, with an area occupation limited to 1 bit per cell; the improved results are possible due to the adoption of a new optimization algorithm, the Selfish Gene algorithm. Experimental results are provided, which show that in most of the standard benchmark circuits the Cellular Automaton selected by the Selfish Gene algorithm is able to reach a Fault Coverage higher that what can be obtained with current engineering practice with comparable area occupation
Data: 2000
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare:
    Data di deposito: 13 Ott 2010 18:10
    Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 13:01:36
    Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 12:59
    Numero Identificativo (DOI): 10.1007/3-540-46406-9_4
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2374677
    Link resolver URL: Link resolver link
    Citazioni:

    Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

    Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

    • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
    • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
    • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

    Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

    +
    -

    Allegati

    [img] PDF (Full_text) - Postprint
    Accesso al documento: Non visibile (accessibile solo al proprietario del dato)
    Licenza: Non pubblico - Accesso privato / Ristretto.

    Download (64Kb (66551 bytes)) | Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento

    Azioni (richiesto il login)

    Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)