The use of model checking in ATPG for sequential circuits

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: The use of model checking in ATPG for sequential circuits
Autori: P. Camurati, M. Gilli, P. Prinetto, M. Sonza Reorda
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 86-95
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Springer
ISBN: 3540544771
ISSN: 0302-9743
Volume: 531
Titolo del convegno: Computer-Aided Verification 2nd International Conference, CAV '90
Luogo dell'evento: New Brunswick, NJ (USA)
Data dell'evento: June 18-21, 1990
Abstract: Some design environments may prevent Design for Testability techniques from reducing testing to a combinational problem: ATPG for sequential devices remains a challenging field. Random and deterministic structure-oriented techniques are the state-of-the-art, but there is a growing interest in methods where the function implemented by the circuit is known. This paper shows how a test pattern may be generated while trying to disprove the equivalence of a good and a faulty machine. The algorithms are derived from Graph Theory and Model Checking. An example is analyzed to discuss the applicability and the cost of such an approach
Data: 1991
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): NON SPECIFICATO
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
    Area disciplinare:
    Data di deposito: 13 Ott 2010 18:56
    Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 11:53:15
    Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 12:58
    Numero Identificativo (DOI): 10.1007/BFb0023722
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2374685
    Link resolver URL: Link resolver link
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