Genetic Defect Based March Test Generation for SRAM

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Genetic Defect Based March Test Generation for SRAM
Autori: Di Carlo, S.; Politano, G.; Prinetto, P.; Savino, A.; Scionti, A.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 141-150
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Comitato scientifico
Editore: Springer
ISBN: 9783642205194
ISSN: 0302-9743
Volume: 6625
Titolo del convegno: EvoCOMNET, EvoFIN, EvoHOT, EvoMUSART, EvoSTIM, and EvoTRANSLOG, EvoApplications 2011
Luogo dell'evento: Torino (IT)
Data dell'evento: April 27-29 2011
Abstract: The continuos shrinking of semiconductor's nodes makes semiconductor memories increasingly prone to electrical defects tightly related to the internal structure of the memory. Exploring the effect of fabrication defects in future technologies, and identifying new classes of functional fault models with their corresponding test sequences, is a time consuming task up to now mainly performed by hand. This paper pro- poses a new approach to automate this procedure exploiting a dedicated genetic algorithm
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: digital system design test and verification, memory testing, march test generation, defect based testing
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
Data di deposito: 16 Set 2016 19:44
Data ultima modifica (IRIS): 20 Set 2016 10:14:32
Data inserimento (PORTO): 22 Set 2016 20:20
Numero Identificativo (DOI): 10.1007/978-3-642-20520-0_15
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2387854
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img] PDF (2011_EvoHot_MarchTest.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Non visibile (accessibile solo al proprietario del dato)
Licenza: Non pubblico - Accesso privato / Ristretto.

Download (335Kb (343110 bytes)) | Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento
[img]
Preview
PDF (2011_EvoHot_MarchTest_AuthorVersion.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Visibile (Ad accesso aperto)
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati.

Download (1082Kb (1108751 bytes)) | Preview

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)

Statistiche sul Download degli allegati

Altre statistiche su questa pubblicazione...